為了幫助考生系統(tǒng)的復(fù)習(xí)2014年注冊(cè)測(cè)繪師考試課程，全面的了解注冊(cè)測(cè)繪師考試教材的相關(guān)重點(diǎn)，小編特編輯匯總了2014年注冊(cè)測(cè)繪師考試輔導(dǎo)資料：測(cè)繪案例分析，希望對(duì)您參加本次考試有所幫助！

大地控制網(wǎng)的布設(shè)?

包括技術(shù)設(shè)計(jì)-實(shí)地選點(diǎn)-建造覘標(biāo)-埋設(shè)標(biāo)石-外業(yè)觀測(cè)-數(shù)據(jù)處理-質(zhì)量檢查-成果提交等環(huán)節(jié)。

A、技術(shù)設(shè)計(jì)：包括收集資料-現(xiàn)場(chǎng)查勘-圖上設(shè)計(jì)-編寫(xiě)設(shè)計(jì)說(shuō)明書(shū)等內(nèi)容。

B、實(shí)地選點(diǎn)

a)實(shí)地探勘選點(diǎn)、標(biāo)記。

b)利用舊點(diǎn)時(shí)，應(yīng)對(duì)其穩(wěn)定性、可靠性和完好性進(jìn)行檢查。

c)點(diǎn)名通常應(yīng)取居民地名，C、D、E級(jí)點(diǎn)也可取山名、地名、單位名。少數(shù)民族地區(qū)的點(diǎn)名采用音譯漢語(yǔ)名，可附原文。

d)新舊點(diǎn)重合時(shí)，通常用原名，否則因注上原名。與水準(zhǔn)點(diǎn)重合時(shí)，應(yīng)注明水準(zhǔn)點(diǎn)等級(jí)和編號(hào)。

e)所有點(diǎn)應(yīng)在現(xiàn)場(chǎng)繪制點(diǎn)之記。A級(jí)點(diǎn)還應(yīng)填寫(xiě)地質(zhì)概要、構(gòu)造背景及地形地質(zhì)略圖。

f) 點(diǎn)位周?chē)嬖诟哂?0的障礙物時(shí)，應(yīng)繪制點(diǎn)的環(huán)視圖。

g)選點(diǎn)工作完成后，應(yīng)繪制GPS網(wǎng)選點(diǎn)圖。

上交資料：點(diǎn)之記和環(huán)視圖(黑墨水填寫(xiě));GPS網(wǎng)選點(diǎn)圖;選點(diǎn)工作總結(jié)

C、建造覘標(biāo)：

D、埋設(shè)標(biāo)石：根據(jù)地區(qū)和控制點(diǎn)等級(jí)不同，標(biāo)石有所差異。埋石工作結(jié)束后，要到所在地的鄉(xiāng)(鎮(zhèn))政府辦理控制點(diǎn)托管手續(xù)。

中心標(biāo)志：基巖和基本標(biāo)石的中心標(biāo)志采用銅或不銹鋼制作;普通標(biāo)石的中心標(biāo)志可采用鐵或堅(jiān)硬的復(fù)合材料制作;中心用十字絲或直徑小于0.5mm的中心點(diǎn)表示

上交資料：填寫(xiě)了埋石情況的點(diǎn)之記;土地占用批準(zhǔn)文件和測(cè)量標(biāo)志委托保管書(shū);埋石工作總結(jié)

E、外業(yè)觀測(cè)：包括儀器選取、制定觀測(cè)計(jì)劃、觀測(cè)作業(yè)和數(shù)據(jù)檢驗(yàn)等。外業(yè)觀測(cè)結(jié)束后應(yīng)上交專(zhuān)業(yè)技術(shù)設(shè)計(jì)、原始觀測(cè)手簿、觀測(cè)數(shù)據(jù)、觀測(cè)網(wǎng)圖、數(shù)據(jù)檢核結(jié)果及觀測(cè)工作技術(shù)總結(jié)。

F、數(shù)據(jù)處理：包括外業(yè)數(shù)據(jù)質(zhì)量檢核、制定平差方案、分析和確定起算數(shù)據(jù)、平差處理、精度評(píng)定、整理數(shù)據(jù)處理成果、編寫(xiě)技術(shù)總結(jié)。

G、質(zhì)量控制：實(shí)行兩級(jí)檢查、一級(jí)驗(yàn)收制度。

H、相關(guān)技術(shù)規(guī)定：《國(guó)家大地測(cè)量基本技術(shù)規(guī)定》、《大地測(cè)量術(shù)語(yǔ)》、《全球?qū)Ш叫l(wèi)星連續(xù)運(yùn)行參考站網(wǎng)建設(shè)規(guī)范》、《全球定位系統(tǒng)(GPS)測(cè)量規(guī)范》、《區(qū)域似大地水準(zhǔn)面精化基本技術(shù)規(guī)定》、《國(guó)家三角測(cè)量規(guī)范》、《中短程光電測(cè)距規(guī)范》、《大地天文測(cè)量規(guī)范》、《測(cè)繪技術(shù)設(shè)計(jì)規(guī)定》、《測(cè)繪技術(shù)總結(jié)編寫(xiě)規(guī)定》、《測(cè)繪產(chǎn)品檢查驗(yàn)收規(guī)定》、《測(cè)繪產(chǎn)品質(zhì)量評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)》。

I、提交成果：技術(shù)設(shè)計(jì)書(shū)、控制點(diǎn)成果(點(diǎn)之記、控制點(diǎn)網(wǎng)形)、外業(yè)觀測(cè)手簿、觀測(cè)數(shù)據(jù)處理成果、專(zhuān)業(yè)設(shè)計(jì)書(shū)、技術(shù)總結(jié)。

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（責(zé)任編輯：xll）

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